displaying 1 - 1 results in total 1
Hubbard, C. R.; Peiser, S.; Siegrist, T.; Levenson, M.; DeTitta, G.; Enright, G.; Gabe, E.; Evans, H.; Finger, L.; Lide, D. R.; Reimann, C. W.; Gilliland, G. L.; Armstrong, J. T.; Piermarini, G. J.; Long, G. G.; Gallagher, T.; Vanderah, T. A.; Munro, R. G.; Block, S.; Roth, R. S.; Ondik, H.; McMurdie, H. F.; Cook, L. P.; Wong-Ng, W.; Mathew, M.; Barnes, J. D.; Chow, L. C.; Takagi, S.; Cahn, J. W.; Bendersky, L. A.; Prince, E.; Santoro, A.; Lynn, J. W.; Karen, V. L.; Mighell, A. D.; Stutzman, P. E.
view article (1.0)NIST Centennial Celebration - Crystallographic Highlights .National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MDAmerican Crystallographic Association Newsletter, No. 4, 22-31, 2000